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HS-LDTS1000 LD芯片测试设备(低温)
一款用于LD芯片光电性能检测,可测试长波长激光器(-40℃至90℃温度条件下)的前光、背光的LIV参数和光谱参数,设备自动化程度高,图像算法智能,支持正面及端面AOI外观检测&OCR字符识别,有利于生产企业提高测试效率,提高产品的品质把控。
优点:
※高效TEC温控系统
※全自动上下料系统
※全自动测试&分选系统
※超高清CCD双视野定位系统
※前光&背光LIV同步高效测试
※可对产品进行等级分类收纳
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